赤外線ゴールドイメージ炉、ゼーベック係数測定装置(ZEM)など、アドバンス理工は多彩な熱技術をベースに未踏の分野に挑戦します。
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レーザフラッシュ法熱定数測定装置 TC-1200RH

測定時間を大幅短縮。
レーザフラッシュ法によって熱電材料、セラミックス、カーボン、金属など均質な固体材料の熱3定数(熱拡散率、比熱容量、熱伝導率)を測定する装置です。

用途

  • 熱電材料の研究開発
  • セラミックス、金属、有機材料の研究開発
  • FPD周辺材料の熱拡散及び熱伝導の評価
  • 半導体デバイスや素子のモールド(封止)材料の熱拡散性の研究開発

特長

  • 従来の抵抗炉に比べ、1/4の測定時間
  • 温度制御応答性アップにより、温度安定性も向上

特許や規格

JIS R 1611-1997 ファインセラミックスのレーザフラッシュ法による熱拡散率・比熱容量・熱伝導率試験方法
JIS R 1650-3-2002 ファインセラミックス熱電材料の測定方法
JIS H 7801-2005 金属のレーザフラッシュ法による熱拡散率の測定方法
JIS R 1667-2005 長繊維強化セラミックス複合材料のレーザフラッシュ法による熱拡散率測定方法
ISO 18755-2005 Dtermination of thermal diffusivity of monolithic ceramics by laser flash method

仕様

型式 TC-1200RH
測定物性 熱拡散率・比熱容量・熱伝導率
温度範囲 室温~1150℃ (最高1200℃)
試料寸法 φ10mm×厚1~3mm (厚さ方向測定)
測定雰囲気 真空中  ※150℃までは大気中も可
アプリケーション ・角型試料用ホルダ(7mm角 一次元測定)

・マルチサンプラー
最大3個の試料をセット可能

・基板測定アタッチメント
面内評価用 室温タイプ (SB-1)
面内評価用 200℃タイプ (SB-2)

・多層解析ソフト FMLシリーズ
熱拡散率の測定結果と既知層の熱物性値から評価可能
JIS H8453に採用されている多層解析モデルを標準装備

・高温タイプ炉
試料系はそのままで、炉体のみを変更し、最大1500℃
までの測定が可能

多層解析ソフト

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