赤外線ゴールドイメージ炉、ゼーベック係数測定装置(ZEM)など、アドバンス理工は多彩な熱技術をベースに未踏の分野に挑戦します。
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熱伝導率測定装置

バルク材料から20nmの薄膜まで多種多様なニーズにあわせた熱伝導率測定を行えます。試料ごと、測定方向ごとに精密な測定を行うことが出来ます。

レーザフラッシュ法熱定数測定装置 TC-1200RH

測定時間を大幅短縮。
レーザフラッシュ法によって熱電材料、セラミックス、カーボン、金属など均質な固体材料の熱3定数(熱拡散率、比熱容量、熱伝導率)を測定する装置です。

レーザフラッシュ法熱定数測定装置 TC-9000シリーズ

高分子から金属まで幅広い材料の熱伝導率測定。
比熱容量・熱伝導率を測定する装置です。ファインセラミックスや金属の試験装置のJISに準拠した装置です。

超高温レーザフラッシュ法熱定数測定装置 TC-UVH

最高3000℃までの超高温領域での熱拡散率測定。
超高温域における材料の熱拡散率測定をレーザフラッシュ法で実現。
カーボン材料やセラミックス材料の熱伝導性評価に最適です。

キセノンフラッシュ法熱拡散率測定装置 TD-1シリーズ

熱伝導性高分子材料の研究開発・品質管理に。
放熱フィルムなどの厚さ方向や面内異方性評価測定が可能です。
レーザフラッシュと比較し光源がやわらかく薄いシート状の測定が可能です。
また、専用のアタッチメントを用いることにより、試料の異方性の測定が簡易的に行えます。

定常法熱伝導率測定装置 GHシリーズ

高分子、ガラスなどの熱伝導性評価。
本装置は、米国規格ASTM E1530に準拠した熱流計方式定常法熱伝導率測定装置です。
50~280℃までの温度範囲にわたり比較的低熱伝導材料の測定を行う装置です。

周期加熱法熱拡散率測定装置 FTCシリーズ

フラッシュ法では測定が難しい薄いフィルム試料を簡便に評価。
交流ジュール加熱法を用いてフィルム状高分子、紙、セラミックスなど固体の厚さ方向の熱拡散率を測定する装置です。
測定範囲をニーズの高い室温専用タイプとしたことで、コンパクトなボディと低価格を実現しました。

光交流法熱拡散率測定装置 LaserPIT

各種フィルム状膜の面方向の熱伝導性評価。
レーザを交流的に照射AC法(Angstrom法)により、薄板材料の面方向熱拡散率を測定する装置です。
高熱伝導膜では、サブ・ミクロン薄膜の測定も可能です。

2ω法ナノ薄膜熱伝導率計 TCN-2ω

簡単にナノ薄膜の熱伝導率評価が可能。
2ω測定においてナノ薄膜の厚さ方向の熱伝導率を測る世界で唯一の市販装置です。他の方式と比べて試料の製作や測定の方式が簡易的に行えます。

熱線法熱伝導率測定装置 TC-1000

熱線法による固体・粉体・液体など各種の熱伝導率測定が可能です。
熱線法とは熱移動の過度現象を利用して熱伝導率を求めるものです。
熱線に一定電力を時間投入し、このときの熱線の温度変化を測定します。
投入電力、熱線長さ、時間に対する変化から熱伝導率を求めます。

走査型サーマルプローブマイクロイメージ STPM-1000

材料の面内分布評価、分析。
本装置では、ゼーベック係数と熱伝導率の面内2次元分布を同時に測定する装置です。
20μmのピッチで材料のマッピング分析が可能です。

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