电阻测量の装置一覧
我们提供能够通过四探针法或四端子法测量电阻的系统，适用于加热过程中的多种应用，如检查薄层半导体材料的结晶温度和寻找欧姆接触的退火条件。利用红外加热技术，我们的系统还能够在加热后的冷却控制过程中进行电阻测量。这有助于从能量收集的角度实现碳中和。
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热电特性评价装置 ZEM-3系列这是一种同时测量热电材料的热电率（塞贝克系数）和电导率的装置。我们准备了温度范围为-100°C至1000°C的测量仪器，操作简单。
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我们提供能够通过四探针法或四端子法测量电阻的系统，适用于加热过程中的多种应用，如检查薄层半导体材料的结晶温度和寻找欧姆接触的退火条件。利用红外加热技术，我们的系统还能够在加热后的冷却控制过程中进行电阻测量。这有助于从能量收集的角度实现碳中和。
这是一种同时测量热电材料的热电率（塞贝克系数）和电导率的装置。我们准备了温度范围为-100°C至1000°C的测量仪器，操作简单。