金属合金和半导体的电阻可以用直流四端法精确测量。
用途
- 金属相变，时效析出，重结晶等研究
- 非晶金属的再结晶分析
- 形状记忆合金的研究开发
- 各种半导体材料温度下电阻的测量
特長
- 可在恒速升温和降温过程中测量电阻
- 直流四端子法高精度测量成为可能
- 不受热电动势影响的测量
仕様
| 型式 | TER-2000RH | TER-2000L |
|---|---|---|
| 测量方法 | 室温至1400°C | -150℃～200℃ |
| 测量方法 | 直流四端法 | |
| 测量范围 | 100Ω～5×10-5Ω | |
| 样品尺寸 | φ10mm×长100mm | |
| 测量气氛 | 惰性气体、大气或真空（可选） | |
