高分子、ガラスなどの熱伝導性評価。
本装置は、米国規格ASTM E1530に準拠した熱流計方式定常法熱伝導率測定装置です。
50～280℃までの温度範囲にわたり比較的低熱伝導材料の測定を行う装置です。

用途

• 半導体パッケージ材料の熱伝導性評価。
• ガラス基板の熱伝導性評価。
• 高分子材料の熱伝導性評価。
• セラミックス材料の熱伝導性評価。
• 低熱伝導金属の熱伝導性評価。
• 熱電材料の熱伝導測定。

特長

• ガードヒータにより面方向の熱損失を最小化設計
• 操作が簡単で安全機能も充実
• 全自動測定
  パソコンに測定温度を入力することで、50℃～300℃までの自動測定が可能
• 精密測定
  SUS304やパイレックス、ベスペルなどにより、予め校正データを求め登録してあり、これらの校正データを基に、未知試料の熱伝導率を測定
• 豊富なモニター表示
  測定中は試料系各部の温度と熱伝導率（参考値）の表示が可能
• フィルム測定も可能（オプション）
  重ね法により、比較的熱伝導が低い薄板やフィルム状試料の熱伝導率を測定することが可能

特許や規格

米国規格ASTM E1530

仕様

測定原理図

抵抗計算式

Rs：試料の熱抵抗　N ：比例係数
TL：試料下面温度　Tu：試料上面温度
Q ：熱流束計出力　Ro：上下界面の接触熱抵抗

較正試料でN を求め、未知試料についてRs を得て、次式から熱伝導率を算出する。

λ：試料の熱伝導率
d：試料厚さ

設定・測定画面

• 試料条件入力画面
• 測定画面
• データグラフ表示画面