電気抵抗測定の装置一覧
薄膜半導体材料の結晶化温度の確認、オーミックコンタクトのアニール条件の探索など、加熱過程を、4探針法または四端子法での電気抵抗の測定が可能な装置を提供いたします。また赤外線加熱技術により、加熱後の冷却制御過程における電気抵抗測定装置の提供も可能です。エネルギーハーベストの観点からカーボンニュートラルに貢献しています。
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厚さ方向熱電特性評価装置 ZEM-d本装置は、厚さ方向でゼーベック係数と電気抵抗率の測定が可能となり、異方性を有する材料の熱電特性を、測定方向を一致させて評価することが可能となります。
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熱電特性評価装置 ZEM-3シリーズ熱電材料の熱電率（ゼーベック係数）と電気伝導率を同時に測定する装置です。簡単な操作で－100℃～1000℃までの温度範囲の測定機を準備しております。
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熱電特性評価装置 ZEM-5シリーズ各種熱電材料の特性や薄膜などの特殊仕様に対応したシリーズ。 熱電材料の開発が進むにつれ、各種材料で、より高いレベルの評価が求められるようになりました。 本装置「……
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