熱伝導性評価の装置一覧
定常法装置から非定常法装置(フラッシュ法、周期加熱法)まで、幅広い熱伝導率を測定出来る装置をご提供できます。バルク材から20nm~500μmの薄膜、金属+樹脂等の多種複合材等、多種多様なニーズに合わせた熱伝導率(厚み方向/面方向)・熱抵抗測定に対応致します。また、全固体電池用材料の熱特性測定のご要望にもお答えできます。放熱評価の観点からカーボンニュートラルに貢献しています。
装置名 | 型式 | 目的 | 試料形状 | 測定温度範囲 | 測定雰囲気 |
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レーザフラッシュ法熱定数測定装置 | TC-1200RH | 熱伝導率 | φ10㎜又は角7㎜ 厚さ1㎜~3㎜ |
室温 | 大気中、真空中、不活性ガス |
50℃~1000℃ | 真空中又は不活性ガス | ||||
熱拡散率 | φ10㎜又は角7㎜ 厚さ1㎜~3㎜ |
室温 | 大気中、真空中、不活性ガス | ||
50℃~1200℃ | 真空中又は不活性ガス | ||||
二次元法 (熱拡散率) |
角25㎜~30㎜ 厚さ0.1㎜~1㎜ |
室温 | 大気中 | ||
多層解析(熱拡散率) | 2層または3層 | ||||
キセノンフラッシュ法熱拡散率測定装置 | TD-1 | 熱拡散率 | φ10、20㎜角10㎜ 厚さ0.5㎜~1.5㎜ |
室温 | 大気中、不活性ガス |
50℃~300℃ | 不活性ガス | ||||
多層解析 | 2層または3層 | ||||
定常法熱伝導率測定装置 | GH-1 | 基板 | 角25㎜ 厚さ2㎜~8㎜ |
30℃~50℃ | 大気中 |
特殊測定 スペーサ・薄膜 | 50c280℃ | ||||
周期加熱法熱拡散率測定装置 | FTC-RT | 熱拡散率 | 厚さ10㎛~300㎛ 10㎜×10㎜以上 |
室温 | 大気中 |
光交流法熱拡散率測定装置 | LaserPIT | 熱拡散率 | 自立した薄板: 幅2.5㎜~4㎜ 長さ30㎜ 厚さ20~500μm |
室温 | 真空中、大気中 |
自立した薄板: 幅2.5㎜~4㎜ 長さ30㎜ 厚さ10μm~50μm |
大気中 | ||||
熱伝導率の算出結果(比熱、密度既知) | 自立しない薄膜: 幅2.5㎜~4㎜ 長さ30㎜ 厚さ100㎚~1000㎚ |
真空中 | |||
2ω法ナノ薄膜熱伝導率計 | TCN-2ω | 熱伝導率 | 10㎜×20㎜ 膜厚さ:要相談 20㎚~1000㎚ 基板厚さ:0.5㎜~1㎜ |
室温 | 真空中 |
熱流量 | F-CAL | 熱流量 | 25mm角 | 室温 | 大気中 |
40mm角 |
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低熱抵抗多層基板用熱流量評価装置 F-CAL
レーザフラッシュ法では測定困難な多層材の測定が可能。 本装置は、試料の熱流量を測定する装置です。 試料の高温側に加熱ブロックを接触させ、試料の低温側に冷却と熱流……
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レーザフラッシュ法熱定数測定装置 TC-1200RH / TC-9000シリーズ
熱電材料をはじめ、幅広い材料の熱伝導率測定。 レーザフラッシュ法によって熱電材料、セラミックス、カーボン、金属など均質な固体材料の熱3 定数(熱拡散率、比熱容量……
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走査型サーマルプローブマイクロイメージ STPM-1000
サーマルプローブによるゼーベック係数と熱伝導率の2次元分布測定装置。 本装置は、ゼーベック係数と熱伝導率を同時に評価出来る分布測定装置です。 同時評価により熱電……
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キセノンフラッシュ法熱拡散率測定装置 TD-1シリーズ
本装置は、放熱フィルムなどの厚さ方向や面内異方性評価測定が可能です。キセノンランプの採用により、試料に対する攻撃性を軽減しており、専用のアタッチメントを用いるこ……
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2ω法ナノ薄膜熱伝導率計 TCN-2ω
本装置は、2ω法を用いたナノ薄膜の厚さ方向の熱伝導率を測る世界で唯一の市販装置です。他の方式と比べ、試料の製作や測定が簡単に行えます。
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光交流法熱拡散率測定装置 LaserPIT
本装置は、レーザ加熱AC法により、フィルム、薄板、薄膜などの薄板材料の面内方向熱拡散率測定装置です。 高熱伝導膜の場合は、サブ・ミクロン薄膜の測定も可能です。
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周期加熱法熱拡散率測定装置 FTCシリーズ
フラッシュ法では測定が難しい薄いフィルム試料を簡便に評価。 交流ジュール加熱法を用いてフィルム状高分子、紙、セラミックスなど固体の厚さ方向の熱拡散率を測定する装……
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定常法熱伝導率測定装置 GH-1シリーズ
高分子、ガラスなどの熱伝導性評価。 本装置は、米国規格ASTM E1530に準拠した熱流計方式定常法熱伝導率測定装置です。 50~280℃までの温度範囲にわたり……
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高温多重熱物性測定装置 RMP-1
3000Kまで、1秒以内に昇温! 本装置は、電流を試料に直接通電することにより、試料を1 秒以内に超高温下まで加熱し、熱物性を測定する装置です。基本物性は、電気……