赤外線ゴールドイメージ炉、ゼーベック係数測定装置(ZEM)など、アドバンス理工は多彩な熱技術をベースに未踏の分野に挑戦します。
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走査型サーマルプローブマイクロイメージ STPM-1000

本装置は、ゼーベック係数と熱伝導率を同時に評価出来る分布測定装置です。同時評価により熱電特性の簡易評価が可能です。また、傾斜機能材料、多層基板、有機材料の熱伝導性分布評価することも可能です。
材料評価における基本的なツールとしての利用が期待されています。

用途

  • 熱電材料の簡易性能評価
  • 傾斜機能材料の熱特性分布評価
  • 無機材料、高分子材料、結晶性材料の均質性評価
  • 実用材料(プリント基板、多層基板など)の欠陥評価

特長

  1. ゼーベック係数と熱伝導率の同時評価が可能。
    熱電特性の2次元分布を簡易評価できます。
  2. 20μmの分解能
    微小領域の組成変化、構造変化が検出できます。
  3. 高速分布測定
    短時間で均質性評価と欠陥評価ができます。

測定原理図

・ゼーベック係数

 電圧差(ΔV)と接触点温度(Tcp)とT3の温度差(ΔT)より計算
 (T3は、T1T2より計算)

・熱伝導率

 T1 - T2から計算

測定例

(Bi1-xSbx)2 Te3(0.5<x<1)のゼーベック係数・熱伝導率分布、ゼーベック係数・熱伝導率の組成依存性

ゼーベック係数分布

ゼーベック係数の組成依存性

熱伝導率分布

熱伝導率の組成依存性

仕様

型式 STPM-1000
測定温度 室温+5℃
最大試料サイズ 最大 角20mm×厚5mm
ゼーベック係数確度 ±10%
(厚さ1mmの単一バルク試料による)
熱伝導率確度※ ±50%
(厚さ1mmの単一バルク試料による)
1点測定時間 10s未満
局所分解能 20μm
位置制御分解能 1μm
試料移動距離 x-axis50mm, y-axis50mm, z-axis10mm
電源 AC100V 15A(パソコンは除く)
外形寸法(本体) W510×D650×t460(mm)
重量 約70kg
設置面積 約W1200×D700(mm)*机置

※未知試料の熱伝導率は熱伝導率既知の参照試料との比較校正によって見積もられます。

応用例

  1. 熱電材料の簡易性能評価
  2. 傾斜機能材料の熱特性分布評価
  3. 無機材料、高分子材料、結晶性材料の均質性評価
  4. 実用材料(プリント基板、多層基板など)の欠陥評価

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