赤外線ゴールドイメージ炉、ゼーベック係数測定装置(ZEM)など、アドバンス理工は多彩な熱技術をベースに未踏の分野に挑戦します。

熱伝導率

バルク材料から20nmの薄膜まで多種多様なニーズにあわせた熱伝導率測定を行えます。試料ごと、測定方向ごとに精密な測定を行うことが出来ます。

レーザフラッシュ法 熱伝導率・熱拡散率・比熱

金属、セラミックス、高分子などの固体材料の測定が、安定かつ再現性良く測定できます。
さらに高分子フィルムの熱拡散率測定が可能です。
また、2次元法にて面方向の熱拡散率の測定ができます。

熱伝導率(厚さ方向) 測定温度範囲 測定雰囲気 試料形状、寸法
室温 大気中、真空中、不活性ガス中 φ10㎜または角7㎜×厚1~3㎜
*厚さに関してはご相談ください
50℃~1000℃ 真空中または不活性ガス中
熱拡散率(厚さ方向) 測定温度範囲 測定雰囲気 試料形状、寸法
室温 大気中、真空中、不活性ガス中 φ10㎜または角7㎜×厚1~3㎜
*厚さに関してはご相談ください
50℃~1200℃ 真空中または不活性ガス中
2次元法
熱拡散率(面方向)
測定温度範囲 測定雰囲気 試料形状、寸法
室温 大気中 角25~30㎜×厚0.1~1㎜
*厚さに関してはご相談ください
多層解析(熱拡散率) 測定温度範囲 測定雰囲気 試料形状、寸法
    2層または3層

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キセノンフラッシュ法 熱拡散率

熱伝導性高分子の熱物性評価に最適です。
放熱フィルムなどの厚さ方向や面内異方性評価が可能です。

熱拡散率(厚さ方向) 測定温度範囲 測定雰囲気 試料形状、寸法
室温~300℃ 大気中 φ10㎜、φ20㎜、
角10㎜×厚0.1~2㎜
※試料に依存
多層解析 測定温度範囲 測定雰囲気 試料形状、寸法
    2層または3層

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2ω法 熱伝導率

ナノ薄膜の厚さ方向の熱伝導率評価
基板上の絶縁薄膜(SiO2 、有機フィルムなど)の厚さ方向の熱伝導率測定が可能です。

熱伝導率(厚さ方向) 測定温度範囲 測定雰囲気 試料形状、寸法
26℃ 真空中 10㎜×長さ20㎜
絶縁膜厚20~1000nm
基板厚0.5~1㎜
※要相談

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光交流法 熱拡散率

厚3~500μmの自立したシート、フィルムおよび基板上に成膜した厚さ100nm以上の薄膜の面方向の熱拡散率測定が可能です。

薄膜
熱拡散率(面方向)

測定温度範囲 測定雰囲気 試料形状、寸法
室温 真空中 自立した薄板:幅2.5~4㎜×長さ30㎜×厚さ10~300μm
*厚さに関してはご相談ください
※1μm以下は基板を供給し、基板上に試料を膜付け

熱伝導率の算出結果(比熱および密度既知)

測定温度範囲 測定雰囲気 試料形状、寸法
室温 真空中 自立しない薄膜: 厚さ100~1000μm
(ガラス基板を支給)

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周期加熱法 熱拡散率

薄膜材料の厚さ方向の熱拡散率が測定可能です。
高分子フィルムの生産プロセスにおける熱設計データの取得やエンジニアプラスチックの研究開発に役立ちます。

薄膜
熱拡散率(厚さ方向)
測定温度範囲 測定雰囲気 試料形状、寸法
室 温 大気中
不活性ガス中
厚10~300μm
10㎜×10㎜以上
*厚さに関してはご相談ください
40℃~200℃

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周期加熱法 熱拡散率

室温専用タイプの薄膜材料の厚さ方向の熱拡散率が測定可能です。
高分子フィルムやシートの研究開発や品質管理に役立ちます。

薄膜
熱拡散率(厚さ方向)
測定温度範囲 測定雰囲気 試料形状、寸法
室 温 大気中 厚10~300μm
10㎜×10㎜以上
*厚さに関してはご相談ください

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定常法 熱伝導率

プラスチック、ガラス、ゴム、木材、セラミックス、複合材料、ガスケット、金属合金、保温材、断熱材等の低~中熱伝導材の測定が行えます。

熱伝導率 測定温度範囲 測定雰囲気 試料形状、寸法
30℃~280℃ 大気中 基盤状:角25㎜×厚1.5~8㎜
フィルム状:角25㎜×厚さ100μm~1000μm

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サーマルプローブ法 熱伝導率ゼーベック係数(相対評価のマッピング)

ゼーベック係数と熱伝導率を同時に評価できる分布測定装置です。
同時評価により熱電特性の簡易評価が可能です。
また、傾斜機能材料、多層基板、有機材料の熱伝導性分布評価も可能です。

ゼーベック係数
熱伝導率
分布測定
測定温度範囲 測定雰囲気 試料形状、寸法
室温+5℃ 大気中 角20㎜×厚5㎜以下

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