熱電評価の装置一覧
熱電材料の基礎物性評価として、試料の測定方向(面内方向 or 厚さ方向)を考慮し、ゼーベック係数や比抵抗、熱伝導率測定はもちろん、熱膨張測定や磁場中熱電特性評価、さらには熱電モジュールの発電量、熱流量、変換効率の評価、サイクル・耐久性評価が可能な装置を提供します。また、ペルチェ素子の評価装置もご提供しております。
装置名 | 型式 | 目的 | 試料形状 | 測定温度範囲 | 測定雰囲気 |
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熱電特性評価装置 | ZEM-3 | 電気抵抗率・ ゼーベック係数 |
固体:長さ5㎜~22㎜ 角又はφ2㎜~4㎜ |
室温~800℃ | 低圧ヘリウム中 |
薄板状:幅2㎜~4㎜ 長さ10㎜~16㎜ 厚さ30㎛~500㎛ フィルム状:要相談 |
室温~800℃ | 低圧ヘリウム中 | |||
ZEM-5HT | 角2〜4mmまたはφ2〜4mm×長3〜15mm | 100℃〜1200℃ | 低圧ヘリウム中 | ||
ZEM-5TF | 成膜基板: 幅2〜4mm×厚0.4〜1.2mm×長20mm 薄膜厚:nmオーダ以上 ※サンプル膜と基板の間に絶縁層を要す。 |
50℃〜500℃ | 低圧ヘリウム中 | ||
ZEM-d | 電気抵抗率・ゼーベック係数 (厚さ方向) |
断面積:最大φ20mm 長さ:0.01~20mm | 室温~200℃ | 大気中、不活性ガス中 | |
電気抵抗率測定 | MILA-TER (4探針法) |
電気抵抗率 | 長さ20㎜×幅5㎜× 厚さ1㎜ |
室温~800℃ | 不活性ガス |
走査型サーマルプローブマイクロイメージ | STPM-1000 | ゼーベック係数・ 熱伝導率 |
角20㎜×厚さ5㎜以下 | 室温+5℃ | 大気中 |
変換効率測定装置 | PEM-2 | 発電量・熱流量・変換効率 | 角20、30、40mm×厚5〜30mm | 最高800℃(高温ブロック温度) | アルゴンガス中 |
Mini-PEM | 角2〜10mm × 高さ1〜20mm | 最高500℃(高温ブロック温度) | 真空中 | ||
F-CAL | 40mm角 | 最高600℃(高温ブロック温度) | 大気中 |
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光交流法熱拡散率測定装置 LaserPIT
本装置は、レーザ加熱AC法により、フィルム、薄板、薄膜などの薄板材料の面内方向熱拡散率測定装置です。 高熱伝導膜の場合は、サブ・ミクロン薄膜の測定も可能です。
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定常法熱伝導率測定装置 GH-1シリーズ
高分子、ガラスなどの熱伝導性評価。 本装置は、米国規格ASTM E1530に準拠した熱流計方式定常法熱伝導率測定装置です。 50~280℃までの温度範囲にわたり……
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アークプラズマ蒸着源 APS-1
異なる「ターゲット」を同時に蒸着。 本蒸着源を既存のアークプラズマ法ナノ粒子形成装置APD シリーズやお手持ちの真空チャンバに増設することで、異なる「ターゲット……
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アークプラズマ法ナノ粒子形成装置 APDシリーズ
パルス真空アーク放電を利用した新しいナノ粒子形成装置 パルス真空アーク蒸着は、シンプルなプロセスで金属イオンを生成し、極薄膜やナノ粒子を形成する唯一の手法です。……