赤外線ゴールドイメージ炉、ゼーベック係数測定装置(ZEM)など、アドバンス理工は多彩な熱技術をベースに未踏の分野に挑戦します。
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熱電評価装置

材料単体での性能指数を図るために必要なゼーベック係数・電気抵抗率・熱伝導率の評価やモジュール化したときの発電効率・回収電力を測定することが出来ます。

大気中熱電モジュール評価装置 F-PEM

本装置は、熱電モジュールを実使用する環境(大気中・荷重下)で、そのモジュールに対して温度差を与えた時に回収できる最大発電量や熱流量、及びその結果から算出する事ができる変換効率を評価できます。また長時間稼働や熱サイクルによる熱電モジュールの評価試験も行う事ができ、モジュールの新規開発目的としての使用は勿論、市販のモジュールが実際に組み込まれる温度や荷重での耐久性評価も可能です。

熱電特性評価装置 ZEM-3シリーズ

熱電材料の熱電率(ゼーベック係数)と電気伝導率を同時に測定する装置です。簡単な操作で-80℃~1000℃までの温度範囲の測定機を準備しております。

熱電特性評価装置 ZEM-5シリーズ

各種熱電材料の特性や薄膜などの特殊仕様に対応したシリーズ。
高温、高抵抗、薄膜など、各種材料の特長に特化した仕様で、さまざまなニーズにお応えできる熱電特性評価装置です。

レーザフラッシュ法熱定数測定装置 TC-1200RH

測定時間を大幅短縮。
レーザフラッシュ法によって熱電材料、セラミックス、カーボン、金属など均質な固体材料の熱3定数(熱拡散率、比熱容量、熱伝導率)を測定する装置です。

レーザフラッシュ法熱定数測定装置 TC-9000シリーズ

高分子から金属まで幅広い材料の熱伝導率測定。
比熱容量・熱伝導率を測定する装置です。ファインセラミックスや金属の試験装置のJISに準拠した装置です。

キセノンフラッシュ法熱拡散率測定装置 TD-1シリーズ

熱伝導性高分子材料の研究開発・品質管理に。
放熱フィルムなどの厚さ方向や面内異方性評価測定が可能です。
レーザフラッシュと比較し光源がやわらかく薄いシート状の測定が可能です。
また、専用のアタッチメントを用いることにより、試料の異方性の測定が簡易的に行えます。

定常法熱伝導率測定装置 GHシリーズ

高分子、ガラスなどの熱伝導性評価。
本装置は、米国規格ASTM E1530に準拠した熱流計方式定常法熱伝導率測定装置です。
50~280℃までの温度範囲にわたり比較的低熱伝導材料の測定を行う装置です。

2ω法ナノ薄膜熱伝導率計 TCN-2ω

簡単にナノ薄膜の熱伝導率評価が可能。
2ω測定においてナノ薄膜の厚さ方向の熱伝導率を測る世界で唯一の市販装置です。他の方式と比べて試料の製作や測定の方式が簡易的に行えます。

走査型サーマルプローブマイクロイメージ STPM-1000

材料の面内分布評価、分析。
本装置では、ゼーベック係数と熱伝導率の面内2次元分布を同時に測定する装置です。
20μmのピッチで材料のマッピング分析が可能です。

小モジュール用熱電変換効率評価装置 Mini-PEM

単素子や一対モジュールなどの熱電変換効率を測定

本装置は、熱電モジュールの発電量だけでなく、変換効率を評価できる装置です。変換効率は、4 端子法による計測に基づいた発電量の電流依存性と熱流計で計測した熱流量から評価します。高温部は、500℃(標準仕様)まで上げることができ、低温部は、液体を流し冷却します。

発電効率特性評価装置 PEM-2

熱電発電モジュールの特性評価。
熱電発電モジュールに最大500℃の温度差をつけて、モジュールに一次元の熱流Qを貫流させたときに発電する電力Pを求めて熱電変換率ηを求める装置です。

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